主题：科学家发明原子级“透视镜” 半导体缺陷无所遁形



财联社
美国密歇根州立大学 (MSU) 的物理学家们开发了一种新的方法，可以以原子尺度分析半导体。这种方法将高分辨率显微镜与超快激光结合起来，可以以前所未有的方式检测半导体的“缺陷”。这项研究由密歇根州立大学杰里考恩实验物理学资助讲座教授泰勒科克尔领导。随着设备变得越来越小、功能越来越强大，能够检查设备组成材料的工具变得至关重要。


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